中儀光科為大家*報道:加州納米技術(shù)研究所所長陳德良,談電子顯微鏡對納米技術(shù)的工作環(huán)境。
記者:嗨, 這是勞合社陳德良。
陳德良:嗨,你好。
我加州納米技術(shù)研究所所長。 我想告訴你,簡單地說,這是掃描電子顯微鏡(SEM)。 這是一個非常的,敏感的電子顯微鏡,允許放大成千上萬倍,甚至幾百千倍。 因此,我們可以有能力的考查,觀察,看物質(zhì),在一個大的放大倍率方式的一個樣本。 基本上,這是一種手段,在這里我們使用的電子束,這是一個電子束在這里的源。 當(dāng)你打開電源后,它升溫和您激活它,將發(fā)送電子束電子射線通過此列。 在這里,我們有電子磁透鏡,這使我們能夠集中精力和直接的電子束對某些目標(biāo)。 通過操縱這些旋鈕,我們可以重定向的電子樣本。 當(dāng)電子束撞擊標(biāo)本,它反映了一定的方向之間的電子和表面化學(xué)和樣品的物理性質(zhì),化學(xué)性質(zhì),使得它能夠看到的電子反射和標(biāo)本從這里電子之間的相互作用。
因此,從探測器的圖像對齊到計(jì)算機(jī)上。 在這里,我們可以觀察到在屏幕上的圖像好得多。 我們使用這種大屏幕,教我們的學(xué)生在電子顯微鏡下觀察。 這些都是我的電路的典型樣本。 我們可以放大成千上萬倍。 事實(shí)上,我們可以地測量這些microlevels尺寸甚至納米級低。 而這些都是我們從這個掃描電子顯微鏡看到的某些圖像。 關(guān)于掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn),它可以讓我們有一個非常準(zhǔn)確的認(rèn)識問題的表面。 它讓我們來考察,實(shí)驗(yàn),學(xué)習(xí),開發(fā)新產(chǎn)品,掃描電子顯微鏡發(fā)現(xiàn)下。 勞埃德陳德良與加州納米技術(shù)研究院。
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