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徠卡偏光顯微鏡的工作原理

更新時(shí)間:2013-05-14   點(diǎn)擊次數(shù):1950次

 徠卡偏光顯微鏡的工作原理

 
徠卡偏光顯微鏡徠卡生物顯微鏡的主要區(qū)別在于徠卡偏光顯微鏡裝有兩個(gè)偏光原件,即起偏振鏡和檢偏正鏡,因此徠卡偏光顯微鏡的構(gòu)造比徠卡生物顯微鏡要復(fù)雜一些。偏光顯微鏡是借著這兩只偏振鏡的作用而實(shí)現(xiàn)對(duì)晶體光學(xué)特性的分析和檢驗(yàn)的目的.
 
徠卡偏光顯微鏡在檢驗(yàn)晶體時(shí),是把晶體放在起偏振鏡和檢偏正鏡之間的載物臺(tái),其起偏振鏡置于聚光鏡下面,而檢偏振鏡置于物鏡上面,在鏡檢前,兩偏振鏡的振動(dòng)面應(yīng)互為垂直(正交),則視場(chǎng)是黑暗的。
 
當(dāng)此偏振光通過被檢晶體時(shí),即會(huì)分成兩束振動(dòng)方向互相垂直的偏振光。由于這兩束光的速度不同,通過晶體后就有一定的光程差.然后到達(dá)檢偏振鏡時(shí),由于檢偏正鏡與起偏振鏡的位置是互相正交的,所以檢偏振鏡只允許方向的振動(dòng)通過。這樣,在X方向,k振動(dòng)的光線只有x:方向上的振動(dòng)的光才能通過撿偏振笛。同理,在Y方向上振動(dòng)的光線只有Ys方向上振動(dòng)的光才能通過檢偏振鏡。所以,通過檢偏振鏡以后即變成只有一定光程差的同方向上攝動(dòng)曲兩束光因此產(chǎn)生了干涉并形成了干涉圖象。干涉圖象是隨下面三個(gè)因素而變化:一、晶體的性質(zhì);二、晶體的厚度;三、光波的波長(zhǎng)。當(dāng)確定了后兩個(gè)因素后,就可憑干涉圖象的不同來確定晶體的性質(zhì),這就是徠卡偏光顯微鏡的基本原理。
 
備注:徠卡偏光顯微鏡的工作原理的部分文章由北京中儀光科科技發(fā)展有限公司編輯整理上傳。
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